Страница 2 из 10
Технологические требования и ограничения
Методы пленочной технологии и характеристики материалов
Технологические требования и ограничения, накладываемые при производстве пленочных элементов, определяют возможность изготовления схемы с заданными параметрами, а также определяют выбор варианта пленочной технологии, которая развивается в двух основных направлениях: по пути создания элементов на основе толстых (толстопленочная технология) и тонких (тонкопленочная технология) пленок. Каждая из указанных технологий имеет свои преимущества и недостатки.
Толстопленочная технология - более простая, экономичная и дешевая, однако имеет существенные технические недостатки: обеспечивает изготовление пленочных элементов со значительным относительным отклонением (погрешностью изготовления) от номинала (10…15)%, имеет низкую воспроизводимость параметров.
Тонкопленочная технология, несмотря на более сложные технологические циклы, имеет существенное преимущество перед толстопленочной технологией. Она обеспечивает более точное изготовление интегральных элементов с отклонениями от номинальных значений пленочных элементов в 1…10%, а при соответствующих методах подгонки эта величина может быть уменьшена до десятых долей %. Кроме того, при тонкопленочной технологии осуществляется высокая воспроизводимость параметров и более высокая степень интеграции микросхем.
Выбор той или иной технологии является одним из основных этапов проектирования интегральных микросхем (ИМС), так как на этом этапе, в зависимости от выбранной технологии, осуществляется выбор материалов пленочных элементов ИМС: резисторов, конденсаторов, проводников и контактных площадок, а также подложек и защитного слоя.
Выбранные материалы должны обеспечивать:
- высокую степень интеграции пленочных элементов ИМС;
- необходимую точность и стабильность параметров в соответствии с электрическими и эксплуатационными требованиями;
- высокую надежность при минимальных технологических затратах;
- простоту и экономичность технологических процессов при изготовлении элементов.
Характеристики материалов пленочных резисторов, конденсаторов, подложек, проводников и контактных площадок, защитных слоев приведены в табл. 1.2 – 1.6.
Таблица 1.1 Исходные электрические, эксплуатационные данные и материалы
|
Исходные данные и варианты
|
1 |
2 |
3
|
4
|
5 |
6
|
7
|
8
|
9
|
10 |
11
|
Параметры
|
Предпоследняя цифра шифра
|
1
|
2 |
3
|
4 |
5
|
6
|
7
|
8 |
9
|
0 |
1 |
2 |
3
|
4
|
5 |
6
|
7
|
8
|
9
|
10
|
11 |
R1,кОм |
15,6 |
2,4
|
12,4
|
4,2 |
11,6
|
3,8
|
14,4
|
1,8
|
13,8
|
4,8 |
R2,кОм |
7,8 |
1,2
|
6,2
|
2,1 |
5,8
|
1,9
|
7,2
|
0,9
|
6,9
|
2,4 |
Кол-во МСБ на под-ложке |
1 |
2
|
1
|
2 |
1
|
2
|
1
|
2
|
1
|
1 |
Последняя цифра шифра
|
|
1 |
2
|
3
|
4 |
5
|
6
|
7
|
8
|
9 |
0
|
С1,пФ |
2000 |
3800
|
2000
|
4700 |
2400
|
3000
|
4300
|
5600
|
3300 |
5100
|
С2,пФ |
4000 |
7800
|
4400
|
9400 |
4800
|
6000
|
8600
|
11200
|
6600 |
10200
|
Раб.напряжение конденсатора Uр, В |
9 |
12
|
3,9
|
16 |
18
|
9
|
11
|
10
|
8 |
7
|
Материал диэлектрика конденсатора |
GeO |
SiO
|
Sb2S3
|
SiO2 |
Al2O3
|
Ta2O5
|
БСС
|
АСС
|
ИБС |
Ta2O5
|
1 |
2 |
3
|
4
|
5 |
6
|
7
|
8
|
9
|
10 |
11
|
Мощность рассеяния резисторов Рi, мВт
|
1 |
2
|
3
|
4 |
5
|
6
|
7
|
8
|
9 |
0
|
14
|
9
|
13
|
10
|
12
|
8
|
11
|
9
|
10
|
9
|
Мате-риал резисторов |
Сплав МЛТ-3М |
Cr
|
Сплав РС-3001
|
Та |
Ta2N
|
Сплав РС-3710
|
NiCr
|
Ta
|
Кермет Cr-SiO |
Cr
|
Допуски на номиналы резисторов и конденсаторов
|
δRi = δCi = ± 10%
|
Погрешности
|
Погрешность воспроизведения поверхностного удельного сопротивления grs, %
|
Погрешность сопротивления контактов gRк, %
|
Погрешность воспроизведения удельной емкости gCo, %
|
2
|
2
|
2
|
Эксплуатационные данные
|
Интервал рабочих температур DT, 0С
|
Время эксплуатации Dt, ч.
|
- 30…+30
|
103
|
Таблица 1.2 Характеристики материалов пленочных резисторов
Материал резистора |
Материал контактных площадок |
Удельное поверхностное сопротивление rS, Ом/□ |
Температурный коэффициент сопротивления TKR, 1/град |
Удельная мощность рассеяния Р0, Вт/см2 |
Коэффициент старения резистора КстR, 1/ч. |
Способ нанесения пленок |
Хром (Cr) |
Золото |
10…50 |
-2,5 ×10-4 |
1 |
(1,5…3)×10-5 |
Термическое напыление |
Нихром (NiCr) |
Медь |
300 |
±10-4 |
2 |
(1,1...1,3) ×10-5 |
То же |
Сплав МЛТ-3М |
Медь с подслоем нихрома |
500 |
±2×10-4 |
2 |
±0,5×10-5 |
То же |
Рений |
- |
300… 7000 |
(0…20)×10-4 |
|
- |
То же |
Тантал (Та) |
Алюминий с подслоем нихрома (ванадия) |
20…100 |
- 2×10-4 |
3 |
10-5 |
Катодное распыление |
Ta |
Ta |
10 |
- 2×10-4 |
3 |
10-5 |
То же |
Нитрид тантала (Та2N) |
Та |
200 |
0 |
3 |
0,2×10-5 |
То же |
Сплав РС-3001 |
Золото с подслоем нихрома |
1000… 2000 |
-0,2×10-4 |
2 |
±0,5×10-5 |
Термичес-кое напыление |
Сплав РС-3710 |
То же |
3000 |
- 3×10-4 |
2 |
- |
То же |
Кермет (Cr-SiO) К-50С |
|
3000… 10000 |
(-5…+3)×10-4 |
2 |
±10-5 |
То же |
|